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本文標(biāo)題："電子元件分析用檢測(cè)顯微鏡制造廠(chǎng)商"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-6-5 1:12:58 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
電子元件分析用檢測(cè)顯微鏡制造廠(chǎng)商
電氣特性的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法是指那些用來(lái)測(cè)試電氣和電子元件特性的典型方法。
在標(biāo)準(zhǔn)電測(cè)試中，測(cè)試方法由標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試步驟所規(guī)定。此外，被測(cè)器件的技術(shù)條件提供
了標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試期間施加于該器件的各種電偏置條件的詳細(xì)信息。所有的測(cè)試參數(shù)和側(cè)
試方法皆有明確的規(guī)定，并將測(cè)試結(jié)果與該器件技術(shù)指標(biāo)的范圍進(jìn)行比較，以確定該
器件是“合格”還是“不合格”。在側(cè)試過(guò)程中，如果元件被正確地側(cè)試但受到測(cè)試損
壞，這是無(wú)關(guān)緊要的.因?yàn)樵撛@然存在缺陷而將歸人“不合格”器件之列。
前述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法和技術(shù)條件，是根據(jù)按一定的設(shè)計(jì)規(guī)范所制造的器件之期望性
能來(lái)制訂的。這些測(cè)試還假定，對(duì)器件的后續(xù)測(cè)試或處理不應(yīng)使它與其預(yù)期的形態(tài)有
所不同。此外，如果先前的測(cè)試已使器件的性能下降或?qū)ζ湓斐蓳p害，標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試也不
會(huì)防止器件進(jìn)一步受到損害。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的目的僅在于確定器件是否滿(mǎn)足其預(yù)定的電
氣性能指標(biāo)。如果在先前的測(cè)試或處理過(guò)程中，器件的性能已經(jīng)下降，則在其特性測(cè)
試過(guò)程中，標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試可能造成對(duì)該器件的進(jìn)一步損害，致使其性能進(jìn)一步降低.就其
測(cè)試目的而言，這種情況無(wú)關(guān)緊要。原本性能下降的器件與進(jìn)一步受損害的器件一
樣，都不能通過(guò)測(cè)試，兩者皆將作為電測(cè)試的廢品而不予考慮。
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